TOPCON近紅外分光輻射亮度計SR-NIR
分類: topcon拓普康
發布時間: 2016-05-17 13:53
TOPCON近紅外分光輻射亮度計SR-NIR在顯示器及照明市場上,對“近紅外領域”的測定需求日漸增多。之前,行業內并沒有一款能夠簡便且高精度測定近紅外光的相關儀器。拓普康公司在通過開發生產SR系列分光輻射度計所培育并積累起來的技術基礎之上,開發出了“SR-NIR近紅外分光輻射度計”。本產品和其他型號的SR系列分光輻射度計一并使用,能夠測定380nm-1030nm的分光輻射亮度
TOPCON近紅外分光輻射亮度計SR-NIR產品特點
- 能測定從FPD到微弱發光的近紅外領域。
- 高精度測定近紅外領域(600~1030nm)的分光分布。
-
和本公司其他型號的分光輻射度計一并使用時,能夠測定可見光~近紅外光(380~1030nm)的分光
分布。
主要用途
- 觀察各類FPD的近紅外領域的輸出
- 觀察Ne、Ar的光譜線輸出。
- 光學膜等的近紅外透過特性評價。
- 其他光源的近紅外分光測量。
-
TOPCON近紅外分光輻射亮度計SR-NIR技術規格
光亮采集 電子冷卻型線性陣列傳感器 波長分散原理 衍射光柵 測定角 2°/1°/0.2°/0.1° (電動切換式) 最小測定直徑(mmφ) 2° : 10.0, 1° : 4.99, 0.2° : 1.00, 0.1° : 0.50 (mmφ) 測定距離 350mm - ∞ (從物鏡金屬件前端開始的距離) 測定波長范圍 600 - 1030nm 光譜波寬 6 - 8nm (半波寬) 波長分解能力 1nm 測定模式 自動/手動 (積分時間/頻率)、外部垂直同步信號輸入 測定內容 分光輻射亮度 : W?sr-1?m-2?nm-1 測定范圍(*1) 2.0° : 0.5 - 3,000, 1.0° : 1 - 9,000
0.2° : 20 - 70,000, 0.1° : 100 - 300,000重復精度(*2) ±2% 以下 偏光特性 分光輻射亮度 5% 以下 校正基準 本公司校正基準*標準A光源、23℃±3℃、65% RH以下 測定時間(*3) 約 1 - 31 秒 界面 RS-232C, USB 2.0 電源 專用AC電源適配器 AC100V-240V, 50/60Hz, 功率 約34W 使用條件 溫度: 5 - 30℃, 濕度: 80%RH 以下 (且無凝露) 外形尺寸(W×D×H) 150×406×239mm 質量 5.5kg
(*1) : 本產品不測定亮度。記錄針對標準A光源的參考值
(*2) : 600~1030nm 針對本公司基準光源
(*3) : E和PC的通信時間除外
測定直徑 (mm φ)
mmφ測定角 測定距離 (*1) 350mm 500mm 800mm 1000mm 2000mm 2° 10.0 15.1 25.4 32.2 66.4 1° 4.99 7.55 12.7 16.1 33.2 0.2° 1.00 1.51 2.54 3.22 6.64 0.1° 0.50 0.76 1.27 1.61 3.32
(*1) 從物鏡金屬件前端開始的距離
選配件
- 輔助鏡
: AL-6 - 輔助鏡
: AL-11 - 輔助鏡
: AL-12 - CCD接口
: IA-2 - 導光束
: FP-3P - 三腳架5N
: Tripod5N - 三腳架
: Tripod-SR - 微動臺
: S-4